從事的電子器件方面簡單介紹一下：

可靠性試驗一般就是指是壽命老化試驗，標準參照如JEDEC，AEC-Q、MIL-STD等，用一定數量的良品，在一定長度的時間進行特定的條件測試， 通過統計學評估出在一定的設計壽命內的失效比例。幾乎所有材料在不同溫度下的物理特性都有差別，比如對電子元器件來說就是半導體的電子遷移率影響，對電池來說就是化學反應溫度影響電池容量。產品規格書承諾的Zui高和Zui低溫度，代表了使用環境可接受的Zui極端條件，所以肯定是要測的。

影響可靠性的方面的原因比如水汽的侵蝕，不同材料的熱膨脹系數不同導致在溫度變化下的密合性變差，長期通電后電子遷移導致原子移動形成線路斷路，這些影響產品壽命。另外也有如抗靜電，抗雷擊之類則影響到產品健壯性。