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    陳工18002557368
    單位新聞
    什么叫可靠性測試
    發布時間: 2024-08-30 09:59 更新時間: 2024-12-28 08:00

    可靠性測試

    測試方法: 振動、沖擊、跌落、IP測試、耐久試驗、電參數測試、PCB失效分析; 測試標準:IEC 60068-2, ASTM D4169-16, GB/T 2423, JIS D5500, MIL-STD-810G, IEC 60529-1989, GB 4208-2008, ISO 20653:201, EIA-364, IEC 60243-1:2013, IPC TM 650, J-STD-002B, MIL-STD-202G; 適用產品:原材料、元器件、零部件、機殼、整機及系統產品、汽車電子產品、電梯產品等。


    服務背景

    可靠性工程與管理是40年代以來迅速發展起來的新興綜合學科,包括設計數學、物理、化學、電子、機械、環境、管理以及人機工程等各個領域。可靠性工程與管理是一個十分復雜的系統工程,它致力于研究提高原材料、元器件、零部件、整機及系統等產品的可靠性,并貫穿于產品的研究、設計、制造、使用及維修的全壽命周期。

    國內外的實踐表明,可靠性工程與管理的應用為企業與社會帶來的巨大的經濟效益,從而引起各國的重視,紛紛投入大量人力和物力進行研究和推廣應用。產品可靠性必將成為今后國際市場競爭的焦點。


    我司提供材料可靠性全面的檢測服務,我們的服務涵蓋:

    一、振動測試(Virbation test)

    1. 測試原理:主要模擬產品在制造、組裝、運輸及使用執行階段所遭遇各種環境振動,用于鑒定產品是否具有能忍受環境振動的能力,測試分類可分為隨機振動和正弦振動。

    2. 測試標準:IEC 60068-2-64:2008(隨機振動), IEC 60068-2-6:2007(正弦振動), GB/T 2423.56-2006(隨機振動), GB/T 2423.10-2008(正弦振動), ASTM D4169-16。

    二、沖擊測試(Shock test)

    1. 分類:半正弦波、梯形波、后峰鋸齒波。

    2. 測試原理:沖擊試驗主要用于模擬樣品在使用和運輸過程中,可能遇到的短時間內的極大沖擊力,我們通過沖擊波瞬間的能量釋放去分析樣品承受外界沖擊力的能力。

    3. 測試標準:IEC 60068-2-27-2008 , GB/T 2423.5-1995, EIA 364-27C-2011。

    三、跌落測試(Drop test)

    1. 測試原理:確定產品在搬運期間由于粗率裝卸遭遇跌落情況時的適應性,或確定安全要求用的Zui低牢固度。

    2. 測試標準:IEC 60068-2-31:2008 Free fall, GB/T 2423.8-1995, MIL-STD-810Gw/Change 1: 2014。

    四、防塵/防水試驗(IP TEST)

    1. 測試原理:用于驗證外殼的防護等級,防水等級分為IPX1~IPX9K;防塵等級分為:IP5X~IP6X, 防異物分為:IP1X~IP4X。

    2. 測試標準:IEC 60529-1989, AMD.2-2013, COR.2-2015, GB 4208-2008, GB/T 4942.1-2006。

    五、電學可靠性試驗(ELECTRICAL PROPERTY TESTING)

    1. 測試原理:依照客戶要求提供各類產品的電學性能測試,可分為絕緣材料電性能及電子產品電性能測試,其中包括表面電阻(率)、體積電阻(率)、耐電壓、介電常數、LCR測試、溫升測試、功耗、及泄漏電流測試。

    2. 測試標準:IEC 62631-3-2:2015 (表面/體積電阻率), GB/T 1410-2006(表面/體積電阻率), ASTM D149-09(2013)(耐電壓、擊穿電壓、介電強度),IEC 60243-1:2013(耐電壓、擊穿電壓、介電強度), EIA-364-21E:2014, PCB失效分析(PCB FAILURE ANALYSIS)。

    六、X-RAY無損探傷

    1. 測試原理:用于驗證PCBA或產品內部缺陷探測:焊接質量、開路、橋接等。

    2. 測試標準:IPC 600, IPC 610, IPC TM650, IPC 6102/6013。

    七、C-SAM超聲波掃描

    1. 測試原理:探測封裝內部分層狀態。

    2. 測試標準:J-STD-035。

    八、SEM/EDS掃描電子顯微鏡

    1. 測試原理:過高倍放大倍數觀察表觀形貌以及分析成分。

    2. 測試標準:PC 600, IPC 610, IPC TM650, IPC 6102/6013。

    九、微切片(Cross-section)

    測試原理:通過切片方法觀察內部缺陷。

    十、染色起拔(Dye&Pry)

    測試原理:觀察BGA焊點內部缺陷,如裂紋等。

    十一、開封(De-cap test)

    測試原理:用化學溶劑將IC開封,觀察內部短路或者燒毀狀態。


    聯系方式

    • 電  話:0755-23312011
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