手機特殊條件測試可靠性測試

手機特殊條件測試

 1. 低溫跌落試驗（Low temperature Drop Test）

 2 測試環境：-20°C；4臺手機；開機狀態。

 2 試驗方法：將手機進行電性能參數測試后處于開機狀態放置在-20° C的低溫試驗箱內1小時后取出，進行1.2米的6個面跌落，2 環，要求3分鐘內完成跌落，方法同常溫跌落。

 2 檢驗標準：手機外觀，結構，功能和電性能參數符合要求。

 2. 扭曲測試（Twist Test）

 2 測試環境：室溫；4臺；開機狀態；0.08倍手機厚度N·m力矩扭曲手機1000次。

 2 檢驗標準：手機沒有變形,外觀無異常，各項功能正常。

 3. 軟壓測試（Squeeze Test） 

2 測試環境：室溫（20~25°C）；4臺；開機狀態；25Kg力反復擠壓手機10000次

 4. 撞擊測試（impact Test） 

2 測試環境：室溫（20~25° C）；4臺手機；0.2J的功率，打擊鏡片四角及中心各式各1 次。

 檢驗標準：手機鏡蓋無變形，無裂縫，無破損（允許有白點），　LCD功能正常。