顯示器測試流程第三方檢測機構

環境可靠性測試

高溫工作試驗、低溫工作試驗、高溫存儲試驗、低溫存儲試驗、濕度負載試驗、恒溫恒濕試驗、ip防塵放水等級測試、振動試驗、沖擊試驗、模擬運輸測試 等

MTBF測試

　壽命試驗（MTBF）是研究產品壽命特征的方法，這種方法可在實驗室模擬各種使用條件來進行。壽命試驗是可靠性試驗中Zui重要Zui基本的項目之一，它是將產品放在特定的試驗條件下考察其失效（損壞）隨時間變化規律。

通過壽命試驗，可以了解產品的壽命特征、失效規律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗過程中可能出現的各種失效模式。如結合失效分析，可進一步弄清導致產品失效的主要失效機理，作為可靠性設計、可靠性預測、改進新產品質量和確定合理的篩選、例行（批量保證）試驗條件等的依據。如果為了縮短試驗時間可在不改變失效機理的條件下用加大應力的方法進行試驗，這就是加速壽命試驗。

壽命試驗（MTBF）方法分為定時截尾試驗，定數截尾試驗，估算方法為：平均壽命的點估計值、單側置信下限估計、雙側區間估計。高溫工作壽命試驗高溫壽命試驗為利用溫度及電壓加速的方法，藉短時間的實驗來評判IC產品的長時間操作壽命。

電磁兼容EMC

◆ EMI：輻射騷擾測試（RE）、電源端子傳導騷擾測試（CE）、騷擾功率測試（PE）、諧波電流測試（Harmonic）、電壓變化與閃爍測試（Flicker）

◆EMS：靜電放電抗擾度測試（ESD）、射頻電磁場輻射抗擾度（RS）、射頻場感應的傳導騷擾抗擾度（CS）、電瞬變脈沖群抗擾度測試（EFT）、浪涌（沖擊）抗擾度（Surge）、電壓暫降，短時中斷和電壓變化抗擾度測試（Dips）、工頻磁場抗擾度測試（PFMF）